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■ 光纖設計
■ 測量多層物質的厚度達到1um
■ 掃面范圍7mm
■ 任意探測長度
■ 單或雙波工作模式
■ 雙波工作設計提高掃描精度
■ 單波工作適合分布應用
■ 多波工作適合集中應用
■ 標準單模光纖作為探測器
■ 全光纖結構和基于壓電陶瓷的掃描組件提高可靠性
■ 熱機時間短
■ 自校正功能(雙波模式)
■ 簡單的操作界面/p>
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記錄(log)輸出 |
干涉記錄包封輸出 |
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熱機時間 |
10分鐘 |
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隨機配件 |
電源線,68pinNI數據采集器連接線,軟件 |
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光學特性 |
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兼容光纖 |
SMF-28(9/125um) |
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光源(標準) |
SLD,1.3um±50nm FWHM,500uW |
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光源(選裝) |
SLD,1.3um±30nm,15mW |
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參照光源,雙波長模式 |
DFB光源,1539nm |
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損耗,雙波長模式 |
11dB |
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損耗,單波長模式 |
7dB |
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測量 |
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OCDR精度 |
典型10%(與光源帶寬相關) |
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掃描 |
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方式 |
雙向壓電陶瓷光纖拉伸器 |
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掃描波形 |
三角波,幅度可調 |
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掃描頻率 |
可以通過軟件調節,標準30Hz,zui高可達到300Hz |
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zui大掃描范圍 |
半幅好于±2%,全幅好于±4% |
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掃描偏置 |
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模擬處理 |
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光學接收 |
信號通道PINFET |
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參考通道:PIN-TIA |
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增益控制 |
30dB范圍,通過GUI控制 |
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濾波 |
帶寬程控,HP,LP以及BP |
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線性輸出(干涉計信號) |
幅度±2V |
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記錄輸出(干涉計封信號) |
幅度0-2.5V |
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信噪比 |
依賴于光學反饋信號,范圍50-70dB |
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選裝附件 |
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掃描驅動 |
高速掃描驅動 |
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選裝光源 |
高功率SLD,功率輸出15mW |
■ 科研研究;
■ 產品制程控制以及后側或者分布測試。
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